Colloquium
光集成STM技术与低维材料物性研究

日期:2022-04-27 阅读:1660

摘要

在扫描隧道显微镜(STM)中集成光激发及光谱分析,能够大大扩展STM的分析能力,在获得表面原子分辨的同时,得到表面的振动谱、激发态动力学过程等信息。光集成STM技术是STM的前沿主要发展方向之一,但由于其较高的技术难度,目前还有许多难点亟待解决。本报告介绍光集成STM的发展前沿,以及我们过去几年在STM针尖增强拉曼光谱(TERS)、太赫兹STM等光集成STM技术上的一些探索,以及利用TERS对几种低维材料开展研究的一些有趣结果。

报告人简介

吴克辉,中科院物理所研究员,1995年浙江大学物理系毕业,2000年在中科院物理所获得博士学位,其后在日本东北大学金属材料研究所从事博士后研究,2004年回国工作,现任物理所表面室9组课题组长,松山湖材料实验室公共技术平台负责人。主要研究方向为:低维量子材料的制备与物性、扫描隧道显微技学、表面物理化学。已发表SCI论文160多篇,总引用>1万次(google scholar)。曾获中科院杰出成就奖、北京市科技一等奖、国家杰青、万人等荣誉。



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